ชุดทดลองอิเล็กทรอนิกส์ดิจิทัลและแอนะล็อก, อุปกรณ์การเรียนการสอนสำหรับโรงเรียน, โต๊ะปฏิบัติการฝึกอบรมวิชาชีพ, อุปกรณ์ฝึกอบรมด้านไฟฟ้า

ZE1110 ชุดทดลองอิเล็กทรอนิกส์ดิจิทัลและแอนะล็อก, อุปกรณ์การเรียนการสอนสำหรับโรงเรียน, โต๊ะปฏิบัติการฝึกอบรมวิชาชีพ, อุปกรณ์ฝึกอบรมด้านไฟฟ้า
I. ข้อมูลทางเทคนิค:
1. แหล่งจ่ายไฟ
อินพุต: AC220V±10%
เอาต์พุต: (1) DCV, ±12V/0.2A, DCI≥0.2A (2) DCV, ±5V/2A, DCI≥1A
2. แหล่งกำเนิดสัญญาณ
(1) เครื่องกำเนิดสัญญาณ (Function Generator)
รูปแบบคลื่นเอาต์พุต: คลื่นสี่เหลี่ยม (Square wave), คลื่นสามเหลี่ยม (Triangle wave), คลื่นไซน์ (Sine wave)
แอมพลิจูด: คลื่นสี่เหลี่ยม, คลื่นสามเหลี่ยม, คลื่นไซน์ (0 ~ 10 V แบบ Peak-to-Peak)
ช่วงความถี่: แบ่งเป็น 4 ช่วง ได้แก่ 0Hz～200Hz, 200Hz～10kHz, 10kHz～100kHz, 100kHz～200kHz
(2) สัญญาณ DC แบบ 2 ช่องทาง: ±5V, ±0.5V (ปรับค่าได้อย่างต่อเนื่อง)
3. เครื่องกำเนิดสัญญาณพัลส์เดี่ยว (Single Pulse Generator) จำนวน 4 ชุด
4. เครื่องกำเนิดสัญญาณลำดับ (Sequence Generator) 4 ช่องทาง (T1, T2, T3, T4) พร้อมวงจรเริ่มและหยุดการทำงาน (Start/Stop circuit)
5. เอาต์พุตสัญญาณพัลส์ความถี่ 1Hz～10MHz
6. วงจรแสดงผลเอาต์พุตสวิตช์ 12 ช่องทาง
7. จอแสดงผล LED แบบ 7-Segment ขนาด 6 หลัก
8. สวิตช์รหัส BCD จำนวน 2 ชุด
9. ระบบมีช่องเสียบและซ็อกเก็ตสำหรับทดลองวงจร IC (รองรับ IC ขนาด 8P～40P) พร้อมตัวต้านทานค่าต่างๆ (เช่น 1K, 10K, 22K, 100K, 680K โอห์ม) และซ็อกเก็ตเชื่อมต่อที่ปลอดภัย สามารถต่อตัวต้านทานและตัวเก็บประจุเพื่อทำการทดลองเกี่ยวกับสัญญาณพัลส์, วงจรดิจิทัล, วงจรลอจิก และการทดลองพื้นฐานอื่นๆ ได้หลากหลายรูปแบบ 10. วงจรพื้นฐาน 555 Timer พร้อมระบบควบคุมสัญญาณเสียงขาออก
11. มิเตอร์วัดความถี่ดิจิทัลความละเอียดสูงแบบ 6 หลัก ช่วงการวัด 0-9.9999 MHz ค่าความคลาดเคลื่อน <1 Hz (ออกแบบโดยใช้ชิป CPLD)
12. มาพร้อมกับโวลต์มิเตอร์ดิจิทัลแบบ 3 หลักครึ่ง
13. ประกอบด้วยชุดโพเทนชิโอมิเตอร์และอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ต่างๆ เช่น ตัวต้านทาน ตัวเก็บประจุ ตัวเหนี่ยวนำ และไดโอด ซึ่งสะดวกต่อการใช้งานสำหรับนักศึกษา
14. ส่วนการทดลองวงจรแอนะล็อกประกอบด้วยวงจรขยายสัญญาณแบบทรานซิสเตอร์เดี่ยวและแบบคู่ (Differential Amplifier) ​​รวมถึงวงจร Op-Amp, วงจรเรียงกระแส และวงจรกรองแรงดันไฟฟ้า ฯลฯ
15. จุดเชื่อมต่อสำหรับการทดลองใช้ขั้วเสียบโลหะและช่องเสียบขนาดมาตรฐานที่ทนทานต่อการเกิดสนิม มีรูปลักษณ์สวยงามและใช้งานได้จริง สายต่อทดลองผ่านกระบวนการเคลือบผิวโลหะ ทำให้เสียบใช้งานได้สะดวก ให้การสัมผัสทางไฟฟ้าที่มั่นคงเชื่อถือได้ และมีอายุการใช้งานยาวนาน เนื้อหาการทดลอง

ส่วนการทดลองด้านดิจิทัลประกอบด้วย:
1. การทดสอบพารามิเตอร์และการใช้งานลอจิกเกตแบบ TTL
2. การทดสอบลอจิกเกตแบบ CMOS
3. การทดสอบฟังก์ชันลอจิกของวงจรเกต
4. การทดสอบอุปกรณ์ลอจิกแบบผสม (Combinational Logic) ทั่วไป
5. การเก็บรวบรวมข้อมูลและการประยุกต์ใช้งาน
6. วงจรตรวจสอบความสัมพันธ์ของหมู่เลือดและวงจรลงคะแนนเสียง
7. การทดสอบฟังก์ชันของ RS ทริกเกอร์ (Flip-flop)
8. การทดสอบฟังก์ชันลอจิกและพารามิเตอร์หลักของ JK ทริกเกอร์
9. การทดสอบฟังก์ชันของชิฟต์รีจิสเตอร์ (Shift Register)
10. วงจรนับเลขฐานสิบ (CMOS)
11. วงจรนับแบบอะซิงโครนัส (Asynchronous Counter)
12. วงจรนับแบบซิงโครนัส (Synchronous Counter)
13. การทดลองวงจรนับ ถอดรหัส และแสดงผล
14. ไอซีตั้งเวลาเบอร์ 555 และการประยุกต์ใช้งาน
15. วงจรตรวจจับลำดับสัญญาณ (Sequential Detector)
16. วงจรแปลงสัญญาณ A/D แบบติดตามสัญญาณ (Follow-type)
17. วงจรควบคุมสัญญาณไฟจราจรแบบกำหนดเอง
18. วงจรควบคุมไฟท้ายรถยนต์
19. การออกแบบวงจรดิจิทัล
20. การทดสอบและศึกษาเกี่ยวกับวงจรตั้งเวลา
21. การสร้างรูปคลื่นสัญญาณและวงจรทริกเกอร์แบบโมโนสเตเบิล (Monostable)
22. วงจรแปลงสัญญาณ A/D
23. วงจรแปลงสัญญาณ D/A
เนื้อหาการทดลองส่วนแอนะล็อกประกอบด้วย:
1. วงจรเรียงกระแส วงจรกรองแรงดัน และวงจรขนาน
2. วงจรควบคุมแรงดันไฟฟ้าแบบอนุกรม
3. วงจรควบคุมแรงดันไฟฟ้าแบบไอซี (Integrated Circuit)
4. วงจรขยายกำลังแบบไอซี
5. วงจรขยายกำลังแบบ Complementary Symmetry